| 专利名称 | 力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台 | 申请号 | CN201210563644.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103884928B | 公开（授权）日 | 20140625 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 崔学顺;郭敬东;祝清省;刘志权;吴迪;张磊;曹丽华 | 主分类号 | G01R31/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台 至力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障