| 专利名称 | 基于高精度电感测头的逐级递推式纳米级测量系统 | 申请号 | CN02292711.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2586131Y | 公开（授权）日 | 20031112 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 台宪青;胡旭晓;杨克己 | 主分类号 | G01B7/02 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 基于高精度电感测头的逐级递推式纳米级测量系统 至基于高精度电感测头的逐级递推式纳米级测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障