| 专利名称 | 一种均匀光源角均匀性测试装置及方法 | 申请号 | CN201810521754.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108776002A | 公开（授权）日 | 20181109 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 昌明;赵建科;薛勋;周艳;李晶;曹昆;胡丹丹;宋琦 | 主分类号 | G01M11/02 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种均匀光源角均匀性测试装置及方法 至一种均匀光源角均匀性测试装置及方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障