| 专利名称 | 一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统 | 申请号 | CN200710178300.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101452043B | 公开（授权）日 | 20090610 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 肖文波;郑厚植;李桂荣;刘剑;谭平恒;扬威;张飞 | 主分类号 | G01R31/26 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统 至一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障