| 专利名称 | 位相型朗奇光栅槽深的光学检测方法 | 申请号 | CN200810021578.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101339006B | 公开（授权）日 | 20090107 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 刘颖;付绍军;刘正坤;徐向东;洪义麟 | 主分类号 | G01B11/22 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 位相型朗奇光栅槽深的光学检测方法 至位相型朗奇光栅槽深的光学检测方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障