| 专利名称 | 双剪切波面干涉测量仪 | 申请号 | CN02283445.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2646683Y | 公开（授权）日 | 20041006 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 栾竹;刘立人;祖继锋;刘德安;周煜;滕树云 | 主分类号 | G01J9/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 双剪切波面干涉测量仪 至双剪切波面干涉测量仪 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障