| 专利名称 | 一种杂光测试装置 | 申请号 | CN200820071665.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201173854Y | 公开（授权）日 | 20081231 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 谷立山;王立朋;张晓辉 | 主分类号 | G01M11/02 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种杂光测试装置 至一种杂光测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障