| 专利名称 | 一种测量系统及测量方法 | 申请号 | CN202010004076.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN111175574A | 公开（授权）日 | 20200519 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 孙文惠;袁海庆;白金花;王欣;李伟;陈伟;祝宁华;刘宇 | 主分类号 | G01R23/14 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种测量系统及测量方法 至一种测量系统及测量方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障