高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪

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专利名称 高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪 申请号 CN200510043037.3 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN100401027C 公开(授权)日 20070124 申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 相里斌;苏丽娟;袁艳 主分类号 G01J3/26 IPC主分类号 专利有效期 高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪 至高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪 法律状态 说明书摘要

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