| 专利名称 | 交叉位敏阳极及应用其实现光子计数积分成像测量的方法 | 申请号 | CN201310210151.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103280393A | 公开（授权）日 | 20130904 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 朱香平;邓国宝 | 主分类号 | H01J40/16 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 交叉位敏阳极及应用其实现光子计数积分成像测量的方法 至交叉位敏阳极及应用其实现光子计数积分成像测量的方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障