| 专利名称 | 测试散射体光学特性的飞秒干涉仪及其使用方法 | 申请号 | CN200410016480.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1249425C | 公开（授权）日 | 20050105 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陈建文;高鸿奕;朱化凤;李儒新;徐至展 | 主分类号 | G01N21/45 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 测试散射体光学特性的飞秒干涉仪及其使用方法 至测试散射体光学特性的飞秒干涉仪及其使用方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障