| 专利名称 | 一种光电跟踪测量设备指向误差验证方法 | 申请号 | CN201710220204.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107063304B | 公开（授权）日 | 20170818 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 张涯辉;陈科;钟代均;罗一涵;王中科;付承毓 | 主分类号 | G01C25/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种光电跟踪测量设备指向误差验证方法 至一种光电跟踪测量设备指向误差验证方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障