| 专利名称 | 用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法 | 申请号 | CN200610163249.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN100504334C | 公开（授权）日 | 20080430 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 沈湘衡;张波;姬琪;王红园 | 主分类号 | G01M11/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法 至用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障