| 专利名称 | X射线光电子全息图的记录装置 | 申请号 | CN02111730.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1175265C | 公开（授权）日 | 20021127 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 高鸿奕;陈建文;谢红兰;徐至展 | 主分类号 | G01N23/223 | IPC主分类号 | 专利有效期 | X射线光电子全息图的记录装置 至X射线光电子全息图的记录装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障