| 专利名称 | 一种高精度低温相变电阻测试设备 | 申请号 | CN98114107.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1117273C | 公开（授权）日 | 20000419 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 卢柯;王群;唐凤军;周飞;张星航 | 主分类号 | G01N27/04 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种高精度低温相变电阻测试设备 至一种高精度低温相变电阻测试设备 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障