| 专利名称 | SRAM存储单元单粒子翻转的测试电路、测试系统及方法 | 申请号 | CN201811301868.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN109509507A | 公开（授权）日 | 20190322 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学 | 发明（设计）人 | 陈静;王硕;王本艳;柴展;葛浩 | 主分类号 | G11C29/56 | IPC主分类号 | 专利有效期 | SRAM存储单元单粒子翻转的测试电路、测试系统及方法 至SRAM存储单元单粒子翻转的测试电路、测试系统及方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障