| 专利名称 | 宽量程直接引拉法薄膜附着力测量装置 | 申请号 | CN200620045502.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN200958994Y | 公开（授权）日 | 20071010 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 邓震霞;邵建达;易葵;范正修;贺洪波;肖连君;何明华 | 主分类号 | G01N19/04 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 宽量程直接引拉法薄膜附着力测量装置 至宽量程直接引拉法薄膜附着力测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障