| 专利名称 | 二维MEMS扫描反射镜转角标定系统及标定方法 | 申请号 | CN201811634308.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN109724540A | 公开（授权）日 | 20190507 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘洪兴;李宪圣;马宏财;孙景旭;薛金来;陈哲;聂婷;李俊秋 | 主分类号 | G01B11/26 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 二维MEMS扫描反射镜转角标定系统及标定方法 至二维MEMS扫描反射镜转角标定系统及标定方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障