| 专利名称 | 一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置和方法 | 申请号 | CN201811415985.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN109387160A | 公开（授权）日 | 20190226 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 赵建平;吴康彪;冯常;廖礼斌;陈志波;张闰;黄冰峰;蔡根 | 主分类号 | G01B11/24 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置和方法 至一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置和方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障