| 专利名称 | 位姿测量平面传感器 | 申请号 | CN200610046763.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN100447528C | 公开（授权）日 | 20071205 | 申请（专利权）人 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 发明（设计）人 | 徐志刚;吴凤丽;刘勇;赵明扬;辛立明 | 主分类号 | G01B21/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 位姿测量平面传感器 至位姿测量平面传感器 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障