| 专利名称 | 一种用于辉光放电表面处理中的等离子体探针诊断装置 | 申请号 | CN00109824.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1138979C | 公开（授权）日 | 20020123 | 申请（专利权）人 | 中国科学院力学研究所 | 发明（设计）人 | 李成明;张勇;曹尔妍;薛明伦 | 主分类号 | G01N27/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种用于辉光放电表面处理中的等离子体探针诊断装置 至一种用于辉光放电表面处理中的等离子体探针诊断装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障