| 专利名称 | 提高GaN基pin结构性能的紫外探测器及制作方法 | 申请号 | CN200610111261.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101101934A | 公开（授权）日 | 20080109 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 赵德刚;杨辉;梁骏吾;李向阳;龚海梅 | 主分类号 | H01L31/105 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 提高GaN基pin结构性能的紫外探测器及制作方法 至提高GaN基pin结构性能的紫外探测器及制作方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障