| 专利名称 | 一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统 | 申请号 | CN201920799179.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN209992396U | 公开（授权）日 | 20200124 | 申请（专利权）人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明（设计）人 | 隋来志;袁开军;吴国荣;张雨桐;牛光明 | 主分类号 | G01N21/64 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统 至一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障