| 专利名称 | 自准直光栅干涉仪的高光学细分结构 | 申请号 | CN201510216014.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105180800B | 公开（授权）日 | 20151223 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 卢炎聪;周常河;韦春龙;余俊杰;李树斌;李民康;李燕阳;邱巨成 | 主分类号 | G01B9/02 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 自准直光栅干涉仪的高光学细分结构 至自准直光栅干涉仪的高光学细分结构 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障