| 专利名称 | 嵌入式存储器的测试结构及方法 | 申请号 | CN201310614028.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103617810A | 公开（授权）日 | 20140305 | 申请（专利权）人 | 中国科学院嘉兴微电子与系统工程中心 | 发明（设计）人 | 冯华星;何文涛;殷明;周美娣;黄璐 | 主分类号 | G11C29/14 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 嵌入式存储器的测试结构及方法 至嵌入式存储器的测试结构及方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障