| 专利名称 | 分析器件操作窗口与相变材料纳米尺寸效应的实验方法 | 申请号 | CN201110103677.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102759669A | 公开（授权）日 | 20121031 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 宋志棠;吴良才;封松林 | 主分类号 | G01R31/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 分析器件操作窗口与相变材料纳米尺寸效应的实验方法 至分析器件操作窗口与相变材料纳米尺寸效应的实验方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障