| 专利名称 | 一种无损检测磷化铟与砷化镓基材料直接键合质量的方法 | 申请号 | CN200410067985.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN100405042C | 公开（授权）日 | 20050406 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 劳燕锋;吴惠桢;封松林;齐鸣 | 主分类号 | G01N21/35 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种无损检测磷化铟与砷化镓基材料直接键合质量的方法 至一种无损检测磷化铟与砷化镓基材料直接键合质量的方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障