| 专利名称 | 用于硅后芯片验证的断言检测装置、方法、系统、芯片 | 申请号 | CN201610108674.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105760612B | 公开（授权）日 | 20160713 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 沈海华;赵跃辉 | 主分类号 | G06F17/50 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 用于硅后芯片验证的断言检测装置、方法、系统、芯片 至用于硅后芯片验证的断言检测装置、方法、系统、芯片 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障