| 专利名称 | 液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201810798007.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN109141828A | 公开（授权）日 | 20190104 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘晓凤;彭丽萍;赵元安;李大伟;胡国行;朱美萍;邵建达 | 主分类号 | G01M11/02 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法 至液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障