| 专利名称 | 平面度测量装置 | 申请号 | CN201610018721.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105547201B | 公开（授权）日 | 20160504 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 耿立明;陈卫标;侯霞;夏文兵;李蕊;谢可迪;姜丽媛;时伟;杨中国 | 主分类号 | G01B11/30 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 平面度测量装置 至平面度测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障