| 专利名称 | 大探测深度的频域光学相干层析成像装置 | 申请号 | CN200820054424.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201139554Y | 公开（授权）日 | 20081029 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 丁超;步鹏;王向朝 | 主分类号 | A61B5/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 大探测深度的频域光学相干层析成像装置 至大探测深度的频域光学相干层析成像装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障