| 专利名称 | 用于p型AlGaN霍尔测试的欧姆接触层及其制备方法 | 申请号 | CN201610864320.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106783978A | 公开（授权）日 | 20170531 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 田爱琴;刘建平;池田昌夫;张书明;李德尧;张立群;杨辉 | 主分类号 | H01L29/45 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 用于p型AlGaN霍尔测试的欧姆接触层及其制备方法 至用于p型AlGaN霍尔测试的欧姆接触层及其制备方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障