| 专利名称 | 一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试系统 | 申请号 | CN201120380938.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202216931U | 公开（授权）日 | 20120509 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 张广平;徐进;张滨;宋竹满 | 主分类号 | G01N27/04 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试系统 至一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障