| 专利名称 | 非线性光学器件损伤检测装置 | 申请号 | CN200610113049.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1916747A | 公开（授权）日 | 20070221 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 陈旭南;杜春雷;罗先刚;周崇喜;胡承刚 | 主分类号 | G02F1/35 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 非线性光学器件损伤检测装置 至非线性光学器件损伤检测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障