| 专利名称 | 推扫式成像光谱仪的波长定标方法及系统 | 申请号 | CN201710816767.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107631798A | 公开（授权）日 | 20180126 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 孙慈;王明佳;崔继承;杨晋;冯树龙;李天骄;宋楠;姚雪峰 | 主分类号 | G01J3/28 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 推扫式成像光谱仪的波长定标方法及系统 至推扫式成像光谱仪的波长定标方法及系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障