| 专利名称 | 多位点检测区、微电极阵列及其制备方法 | 申请号 | CN201611024906.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106645346B | 公开（授权）日 | 20170510 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 王力;蔡新霞;罗金平;宋轶琳;徐辉任;王杨 | 主分类号 | G01N27/327 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 多位点检测区、微电极阵列及其制备方法 至多位点检测区、微电极阵列及其制备方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障