| 专利名称 | 采用放大自发辐射光源测试光学元件损伤阈值装置和方法 | 申请号 | CN201310422557.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104062299A | 公开（授权）日 | 20140924 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 周琼;庄亦飞;冯滔;朱健强 | 主分类号 | G01N21/88 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 采用放大自发辐射光源测试光学元件损伤阈值装置和方法 至采用放大自发辐射光源测试光学元件损伤阈值装置和方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障