| 专利名称 | 外延薄膜表面保护测试技术 | 申请号 | CN200810201535.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101403604A | 公开（授权）日 | 20090408 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 魏彦锋;陈晓静;徐庆庆;张传杰;杨建荣 | 主分类号 | G01B11/06 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 外延薄膜表面保护测试技术 至外延薄膜表面保护测试技术 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障