| 专利名称 | 一种光学元件表面缺陷检测自动对焦方法及装置 | 申请号 | CN201910136446.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN109781745A | 公开（授权）日 | 20190521 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 全海洋;胡小川;李声;侯溪;徐富超;付韬韬;伍凡 | 主分类号 | G01N21/95 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种光学元件表面缺陷检测自动对焦方法及装置 至一种光学元件表面缺陷检测自动对焦方法及装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障