| 专利名称 | 多孔膜厚度与孔隙率二维分布测定方法 | 申请号 | CN201811228419.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN109141260A | 公开（授权）日 | 20190104 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 祁志美;刘紫威;高然;张萌颖;赵敏;尹涛 | 主分类号 | G01B11/06 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 多孔膜厚度与孔隙率二维分布测定方法 至多孔膜厚度与孔隙率二维分布测定方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障