| 专利名称 | 基于影响矩阵瑞奇‑康芒检验的局部采样面形恢复方法 | 申请号 | CN201711096670.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107941165A | 公开（授权）日 | 20180420 | 申请（专利权）人 | 中科院南京天文仪器有限公司 | 发明（设计）人 | 李金鹏;林冬冬;胡明勇;郑锋华;朱庆生;毕勇;李季 | 主分类号 | G01B11/24 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 基于影响矩阵瑞奇‑康芒检验的局部采样面形恢复方法 至基于影响矩阵瑞奇‑康芒检验的局部采样面形恢复方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障