| 专利名称 | 单孔径多重成像的光学成像测距装置 | 申请号 | CN200610118430.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN100538264C | 公开（授权）日 | 20070509 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 阳庆国;刘立人;栾竹;刘德安;孙建锋 | 主分类号 | G01C3/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 单孔径多重成像的光学成像测距装置 至单孔径多重成像的光学成像测距装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障