| 专利名称 | 一维综合孔径微波辐射计 | 申请号 | CN200720169818.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201138358Y | 公开（授权）日 | 20081022 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 吴季;阎敬业;马纽埃尔·马丁·尼拉 | 主分类号 | G01R29/08 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一维综合孔径微波辐射计 至一维综合孔径微波辐射计 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障