| 专利名称 | 用于MIMO阵列的相移偏移成像方法及装置 | 申请号 | CN201810453173.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108919260A | 公开（授权）日 | 20181130 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 李超;高航;吴世有;张群英;刘小军;方广有 | 主分类号 | G01S13/89 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 用于MIMO阵列的相移偏移成像方法及装置 至用于MIMO阵列的相移偏移成像方法及装置 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障