| 专利名称 | 光谱扫描测试装置及其测试方法 | 申请号 | CN201510216938.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106198463A | 公开（授权）日 | 20161207 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 张敏;顾泓;周桃飞;张志强;刘磊;田飞飞;郑树楠;徐科 | 主分类号 | G01N21/63 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 光谱扫描测试装置及其测试方法 至光谱扫描测试装置及其测试方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障