| 专利名称 | 磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统 | 申请号 | CN201410816610.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104599244B | 公开（授权）日 | 20150506 | 申请（专利权）人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 | 主分类号 | G06T5/00 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统 至磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障