| 专利名称 | 一种集成电路测试方法和系统 | 申请号 | CN201811234951.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN109583240A | 公开（授权）日 | 20190405 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 杨一培;叶靖;李晓维;李华伟;胡瑜;钟明琛;王莉菲 | 主分类号 | G06F21/76 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种集成电路测试方法和系统 至一种集成电路测试方法和系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障