| 专利名称 | 一种半导体激光器退化机制的检测方法 | 申请号 | CN201410835806.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105807197A | 公开（授权）日 | 20160727 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;苏州纳睿光电有限公司 | 发明（设计）人 | 温鹏雁;李德尧;张书明;刘建平;张立群;杨辉 | 主分类号 | G01R31/26 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 一种半导体激光器退化机制的检测方法 至一种半导体激光器退化机制的检测方法 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障