| 专利名称 | 应用于光电子器件光信号监测的光耦合结构 | 申请号 | CN201410276361.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104051954A | 公开（授权）日 | 20140917 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 王欣;邓晔;刘宇;祝宁华 | 主分类号 | H01S5/026 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 应用于光电子器件光信号监测的光耦合结构 至应用于光电子器件光信号监测的光耦合结构 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障