| 专利名称 | 基于数字基带模拟器的高性能标签测试系统 | 申请号 | CN201220167150.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202563009U | 公开（授权）日 | 20121128 | 申请（专利权）人 | 中科院杭州射频识别技术研发中心 | 发明（设计）人 | 刘艳玲;崔恒荣;徐明;孙晓玮;赵欣 | 主分类号 | G01R23/16 | IPC主分类号 | 专利有效期 | 基于数字基带模拟器的高性能标签测试系统 至基于数字基带模拟器的高性能标签测试系统 | 法律状态 | 说明书摘要 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障